電鍍錫晶須生長(zhǎng)抑制:?jiǎn)」忮a與光亮錫的對(duì)比
在PCB制造中,電鍍錫是一種常見的表面處理工藝,但錫須生長(zhǎng)問(wèn)題一直是影響電子器件可靠性的重要因素。錫須是指在鍍錫層表面自發(fā)生長(zhǎng)的針狀金屬突起,可能導(dǎo)致電氣短路,影響產(chǎn)品性能。因此,抑制錫須生長(zhǎng)成為PCB制造中的關(guān)鍵技術(shù)之一。
錫須生長(zhǎng)機(jī)理
錫須的生長(zhǎng)是一個(gè)自發(fā)過(guò)程,其主要驅(qū)動(dòng)力是鍍層內(nèi)部的壓縮應(yīng)力和晶界缺陷。內(nèi)部因素包括鍍層和基底的材料本性、鍍層合金、厚度、結(jié)構(gòu)和表面狀況等,外部因素則包括機(jī)械應(yīng)力、溫度、濕度等。通過(guò)控制這些因素,可以有效抑制錫須生長(zhǎng)。
啞光錫與光亮錫的對(duì)比
晶須生長(zhǎng)概率
- 啞光錫(Matte):?jiǎn)」忮a鍍層具有較粗的晶粒結(jié)構(gòu),晶界數(shù)量較少,能夠有效抑制錫須的生長(zhǎng)。在1000小時(shí)的測(cè)試中,啞光錫的晶須生長(zhǎng)概率較低,通常小于5μm。
- 光亮錫(Bright):光亮錫鍍層通常具有細(xì)晶粒結(jié)構(gòu),晶界數(shù)量較多,容易成為錫須生長(zhǎng)的通道。因此,光亮錫的晶須生長(zhǎng)風(fēng)險(xiǎn)較高,1000小時(shí)測(cè)試中晶須生長(zhǎng)長(zhǎng)度可能超過(guò)5μm。
抑制措施
- 優(yōu)化電鍍工藝:通過(guò)調(diào)整電鍍參數(shù),如電流密度、占空比和頻率,可以降低鍍層的內(nèi)應(yīng)力,從而減少錫須生長(zhǎng)的可能性。
- 添加合金元素:在鍍槽中加入少量合金元素(如Bi或Ag),可以有效防止錫須生長(zhǎng),但需考慮合金加工性和成本問(wèn)題。
- 預(yù)鍍阻擋層:在Sn和Cu之間添加一層擴(kuò)散阻礙層(如Ni),可以減緩Sn和Cu之間的反應(yīng),從而抑制錫須生長(zhǎng)。
- 表面處理:對(duì)鍍層進(jìn)行適當(dāng)?shù)谋砻嫣幚?,如熱處理或再流焊,可以改變鍍層的組織結(jié)構(gòu),減少內(nèi)應(yīng)力。
- 環(huán)境控制:在低溫低濕的環(huán)境下,錫須生長(zhǎng)的可能性較小,因此在存儲(chǔ)和使用過(guò)程中應(yīng)盡量避免高溫高濕環(huán)境。
通過(guò)對(duì)比啞光錫和光亮錫的晶須生長(zhǎng)概率,可以看出啞光錫在抑制錫須生長(zhǎng)方面具有明顯優(yōu)勢(shì)。結(jié)合優(yōu)化電鍍工藝、添加合金元素、預(yù)鍍阻擋層、表面處理和環(huán)境控制等措施,可以有效減少錫須生長(zhǎng),提高PCB的可靠性和使用壽命。
技術(shù)資料