天天日日天天干,日本不卡 在线视频,成品网站1688入口,日本一线产区和韩国二线,999色,精品久久久久久中蜜乳樱桃,www.女人本色,手机看片1204,手机在线看不卡的,色逼999,久久精品在线观看,亚洲综合精品八区,国产精品一区二区在线观看,色综合网不卡,九色蝌蚪自拍精选,99夜夜操www,91日本在线观看亚洲精品

一、為什么測試點設(shè)計會影響PCB的可制造性？

PCB制造和組裝過程中，為了保證每一塊電路板的功能正確、焊接良好，必須進(jìn)行電氣測試。這些測試包括短路檢查、開路檢查、元件焊接情況、電路連通性、電源供電穩(wěn)定性等。要完成這些測試，測試探針必須接觸到電路板上的指定點位，這些點位就是測試點。

測試點設(shè)計不合理，會帶來以下問題：

• 測試探針無法準(zhǔn)確接觸；

• 某些信號無法測到；

• 焊點損壞或探針誤傷元件；

• 測試夾具制作復(fù)雜、成本高；

• 測試程序不穩(wěn)定，產(chǎn)生誤判；

• 無法自動測試，只能人工檢查。

這些問題會讓生產(chǎn)效率降低、產(chǎn)品良率變差、返修次數(shù)增加、出貨時間延遲。所以在設(shè)計階段合理布置測試點，是保證制造順利和質(zhì)量穩(wěn)定的前提。

測試點設(shè)計是一項小細(xì)節(jié)，但對整條生產(chǎn)線的影響非常大。

二、測試點的基本原理和類型

測試點是為探針、探頭或測試針床提供電氣接觸的焊盤。通過這些測試點，設(shè)備可以檢測電路板上的各個信號、電壓、電源狀態(tài)等。

常見測試點類型有以下幾種：

1. 焊盤兼作測試點

一些芯片的引腳、焊盤直接暴露在外面，也可以當(dāng)作測試點。測試設(shè)備的探針可直接接觸這些位置。這種方式簡單，適合貼片元件較少的低密度板。

2. 獨立測試焊盤

設(shè)計專門的圓形測試焊盤，只用于探針接觸。這類焊盤不連接元器件，只連接信號線或電源軌。常用于自動測試夾具。

3. 插針測試孔

設(shè)計一個通孔，插入探針用于測試。這種孔要足夠大，適合測試針插入，但不能影響電路功能。適合THT板或人工測試場合。

4. 邊緣測試點

在PCB板邊放置金手指或外露銅面，用于探針夾持或接觸。這種方式適用于連接器、接口電路的測試。

不同類型的測試點適用于不同的測試方式，要根據(jù)產(chǎn)品情況選擇合適的方案。

三、影響測試點布置的幾個關(guān)鍵因素

測試點雖然小，但布置方式必須考慮多個維度，包括信號完整性、設(shè)備兼容性、可探測性、空間利用等。

1. 可接觸性

測試點要有足夠面積供探針接觸。常見直徑為0.9mm~1.2mm。如果太小，探針容易滑偏或接觸不良。

測試點周圍應(yīng)有空白區(qū)域，不應(yīng)靠近元件、銅皮、走線，否則容易碰到其他結(jié)構(gòu)。

探針落點要穩(wěn)定，不可放在軟性結(jié)構(gòu)（如防焊油面、絲?。┥?。

2. 數(shù)量與分布

一般要求每個電源軌、每個信號網(wǎng)、每個地線都應(yīng)至少布置一個測試點。對于重要信號，如主時鐘、I2C總線、UART口，應(yīng)考慮布兩個以上測試點，防止一個焊盤失效。

測試點分布應(yīng)盡量均勻，不能都集中在一個角落。這樣測試探針夾具受力會不均，探頭壽命縮短。

如果是多層板，最好將測試點安排在頂層或底層，避免內(nèi)層無法接觸。

3. 測試點編號與標(biāo)識

每個測試點要有唯一編號，如TP1、TP2、TP3等，并在絲印層標(biāo)出。這樣便于工程師調(diào)試、測試程序標(biāo)記，也方便返修。

同時可以加上功能說明，比如TP1是VCC、TP2是GND、TP3是CLK等。

編號清晰、命名一致，能大大提升測試效率。

4. 焊盤阻焊開窗

測試點的焊盤必須去除阻焊油墨，裸露銅面，便于探針接觸。否則會接觸不良，測試失敗。

一般用PCB設(shè)計軟件在測試點上添加“SMD pad”結(jié)構(gòu)，并設(shè)置“開窗”屬性，或者手動修改阻焊層。

要注意開窗不能太大，避免引起錫橋或影響周圍布線。

5. 與治具的兼容性

測試夾具（針床）對測試點的排布有固定規(guī)則。比如標(biāo)準(zhǔn)夾具的探針間距為2.54mm或1.27mm。如果測試點太密集或排布不規(guī)整，夾具制作就會非常困難。

建議測試點排列成規(guī)則的行列，并盡量使用統(tǒng)一尺寸和間距。布線時也要避免測試點之間的信號互串或干擾。

四、實際測試點布置的方法與技巧

1. 電源測試點布置

每條電源軌建議布置一個測試點。電源測試點應(yīng)接近電源輸出端或關(guān)鍵芯片VCC腳附近，方便測量電壓穩(wěn)定性。

對于多個電壓等級（如3.3V、5V、1.8V），每種電壓都要有單獨測試點。電源地（GND）也要布點，與電壓點配合，便于用表筆測量。

2. 信號測試點布置

對重要信號，比如系統(tǒng)時鐘、通訊線（UART、CAN、SPI）、控制線（RESET、EN），建議布置單獨測試點。放置在布線中間，不能直接放在芯片引腳旁邊，以免因操作誤碰芯片。

對于不太重要的信號線，比如內(nèi)部邏輯線，可合并多個信號使用一個多針測試頭來采樣，但要保證信號識別穩(wěn)定。

3. 測試點集中排布

為了方便自動夾具探針接觸，一些設(shè)計師會把測試點集中排成一行或一塊區(qū)域，俗稱“測試區(qū)”或“探針區(qū)”。

這樣可大大簡化針床設(shè)計，也便于AOI或ICT自動化測試。測試區(qū)應(yīng)避開高發(fā)熱器件和高頻走線區(qū)域，避免干擾。

4. 靠近邊緣布點

如果PCB面積受限，測試點不夠布，可以考慮將部分測試點布置在板邊緣，配合邊緣夾具或FPC連接方式。

邊緣測試點建議加加強(qiáng)銅皮或金屬保護(hù)層，防止插拔損傷。

5. 多層板測試布線

對于多層板，如果測試點在中層，無法探針直接接觸。這時可通過盲孔或通孔引出到頂層或底層，或者使用via-in-pad結(jié)構(gòu)暴露測試面。

同時，布線時應(yīng)避免測試點串?dāng)_高頻信號，避免影響正常工作。

五、測試點設(shè)計中的常見錯誤及其規(guī)避

錯誤一：沒有足夠測試點

一些設(shè)計忽略了測試點，導(dǎo)致后期只能依靠人工探測，效率低下。建議所有關(guān)鍵信號都必須預(yù)留測試點。

錯誤二：測試點太小或遮蔽

如果測試點小于0.8mm，探針可能無法準(zhǔn)確接觸。如果被絲印遮住或上方有器件，測試探針無法落點。建議設(shè)置保護(hù)區(qū)，不布器件，不放絲印。

錯誤三：測試點位置偏移

測試點放在邊緣、拐角或大銅皮上，會引起信號不穩(wěn)定或測試電阻大。建議放在信號路徑中部，布線清晰位置。

錯誤四：沒有統(tǒng)一編號或標(biāo)識

沒有標(biāo)明TP編號，現(xiàn)場測試時容易混淆，也不利于調(diào)試記錄。建議每個點命名清晰，并在設(shè)計圖紙中說明其功能和測試標(biāo)準(zhǔn)。

錯誤五：布點不考慮治具尺寸

如果測試點分布不規(guī)則，會讓測試夾具結(jié)構(gòu)復(fù)雜、壽命下降。建議布點符合標(biāo)準(zhǔn)針距和排列。

測試點設(shè)計是可制造性中不可忽視的一環(huán)

測試點布置看似小事，但關(guān)系整個測試環(huán)節(jié)的效率和可靠性。好的測試點布局，可以讓測試人員快速定位問題、提升測試良率、節(jié)省人工成本，也可以降低夾具復(fù)雜度、縮短調(diào)試時間。

設(shè)計時不應(yīng)只關(guān)注功能實現(xiàn)，也應(yīng)在布局階段就預(yù)留好足夠、合理、清晰的測試點位置。這樣才能讓后續(xù)的ICT、FCT、調(diào)試、電性校準(zhǔn)都順利進(jìn)行。

如果從一開始就重視測試點布置，就能大大提高PCB的可制造性，也能減少后期不必要的返工和測試難度。