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六層板反光點(diǎn)設(shè)計(jì)對于自動(dòng)化光學(xué)檢測（AOI）至關(guān)重要，可提高檢測效率與準(zhǔn)確性。以下詳細(xì)說明設(shè)計(jì)及誤判控制要點(diǎn)：

 一、設(shè)計(jì)規(guī)范

反光點(diǎn)形狀宜簡單規(guī)則，如圓形或方形，便于 AOI 設(shè)備識(shí)別。尺寸要適中，綜合考慮檢測精度與 PCB 空間，直徑或邊長建議在 0.5mm - 1mm。

位置選擇上，每層板的反光點(diǎn)均勻分布，避開元件、走線及焊盤，防止遮擋與干擾。建議在板角及中心區(qū)域設(shè)置，至少每層設(shè) 4 個(gè)反光點(diǎn)。

 二、反光材料選擇與處理

選擇高反射率材料，如鏡面金屬或?qū)Ｓ梅垂馔繉?。材料表面要光滑平整，無劃痕、氧化及污漬，確保反射效果穩(wěn)定。安裝時(shí)要牢固固定，防止材料脫落或變形。

 三、誤判原因分析

檢測環(huán)境光線若不穩(wěn)定或過強(qiáng)過弱，會(huì)影響反光點(diǎn)反射效果，導(dǎo)致誤判。AOI 設(shè)備參數(shù)設(shè)置不當(dāng)，如檢測靈敏度過高或過低，也會(huì)引發(fā)誤判。反光點(diǎn)受污染、損壞或氧化，會(huì)改變反射特性，造成誤判。其他元件反射光與反光點(diǎn)混淆，同樣會(huì)導(dǎo)致誤判。

 四、誤判率控制方法

優(yōu)化檢測環(huán)境，保持光線均勻穩(wěn)定，避免干擾。定期校準(zhǔn)維護(hù) AOI 設(shè)備，確保參數(shù)精準(zhǔn)，性能良好。檢測前對反光點(diǎn)進(jìn)行清潔檢查，及時(shí)修復(fù)損壞。在設(shè)計(jì)中為反光點(diǎn)設(shè)置獨(dú)特標(biāo)識(shí)，如特定形狀或排列組合，與其他元件區(qū)分。

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