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一、連通性測試

首先要做的是連通性測試。這一步很關(guān)鍵，主要是檢查布線后的電路是否導通。工程師通常會用萬用表來進行這項測試。把萬用表的兩個表筆分別接觸線路的起點和終點，如果萬用表顯示電阻值接近于零，就說明線路是導通的，沒有出現(xiàn)斷路情況。反之，若電阻值很大或者無窮大，那就意味著線路存在斷路問題，需要查找具體位置并進行修復。

 二、電氣參數(shù)測試

在連通性沒有問題的基礎(chǔ)上，還要對電氣參數(shù)進行測試。

   電阻測試 ：除了檢查線路是否導通，還要精準測量線路的電阻值。因為線路上的電阻會影響電路的正常工作。例如在一些對電流精度要求高的電路中，過大的線路電阻會導致實際工作電流與預期值偏差過大。測量時，可將電路斷電，用電阻表的合適量程檔位，分別接觸線路兩端，讀取電阻值，并和設(shè)計要求對比，看是否在允許的誤差范圍內(nèi)。

   電壓測試 ：采用電壓表來測量關(guān)鍵節(jié)點的電壓值。比如在數(shù)字電路中，芯片的供電引腳電壓是否穩(wěn)定在規(guī)定值附近，像常見的 5V、3.3V 供電系統(tǒng)，要確保實際測量的電壓不會出現(xiàn)大幅波動。測量時，電壓表的一端接地，另一端接觸被測節(jié)點，讀取電壓數(shù)值并記錄。

 三、信號完整性測試

對于高速電路來說，信號完整性測試必不可少。

   眼圖測試 ：這是評估高速信號質(zhì)量的一種直觀方法。通過專業(yè)的高速信號測試儀器，如示波器配合眼圖模板來觀察信號的眼圖。當信號質(zhì)量好時，眼圖的 “眼睛” 打開得大，各條軌跡清晰分明，說明信號在傳輸過程中失真小、干擾少，傳輸質(zhì)量高；反之，如果眼圖模糊不清、軌跡重疊嚴重，“眼睛” 幾乎閉合，就表明信號完整性差，可能存在過多的反射、衰減等問題，需要對布線進行優(yōu)化，比如調(diào)整線長、改善端接等。

   上升時間與下降時間測試 ：信號的上升和下降時間對電路的正常工作也很重要。同樣利用示波器，觀察信號從低電平到高電平（上升時間）或者從高電平到低電平（下降時間）所用的時間。如果上升時間或下降時間過長，可能會導致數(shù)字電路中的邏輯門延遲過大，影響整個電路的工作速度。測試所用的示波器要具備足夠的帶寬和采樣率，以確保能準確捕捉到信號的變化細節(jié)。

 四、電磁兼容性測試

電磁兼容性關(guān)乎電路板對外界干擾的抵御能力以及自身對其他設(shè)備的干擾程度。

   輻射干擾測試 ：將電路板放置在電磁屏蔽室內(nèi)，使用頻譜分析儀和天線來接收電路板發(fā)出的電磁輻射信號。如果檢測到的輻射強度過高，超出相關(guān)標準規(guī)定的限值，就說明電路板的電磁屏蔽措施不到位或者布線布局存在較大問題，像高速信號線沒有合理屏蔽、關(guān)鍵的干擾源沒有進行隔離等，需要針對性地改進布線方案。

   抗干擾能力測試 ：模擬一些常見的電磁干擾源，如將電路板放置在一定強度的電磁場環(huán)境中，觀察電路的輸出信號和工作狀態(tài)是否出現(xiàn)異常。例如在有強電設(shè)備干擾的環(huán)境中，檢查電路板的信號是否受到干擾而出現(xiàn)誤碼、波動等情況。若出現(xiàn)這些問題，可能要通過優(yōu)化地線布局、增加濾波電路等方式來增強抗干擾能力。

 五、環(huán)境適應性測試

電路板在實際使用中會面臨各種環(huán)境條件。

   高溫測試 ：把電路板放入高溫老化試驗箱中，在設(shè)定的高溫環(huán)境下（比如 85℃等常用溫度）持續(xù)通電工作一定時間，通常為幾百小時甚至上千小時。在測試過程中，定期檢查電路板的各項功能和性能指標是否正常。如果在高溫環(huán)境下出現(xiàn)故障或者性能下降，可能是布線材料的耐溫性能不佳，或者線路之間的散熱設(shè)計不合理，需要更換材料或者優(yōu)化布線的散熱結(jié)構(gòu)。

   低溫測試 ：與高溫測試相對應，將電路板置于低溫環(huán)境中，比如 - 40℃左右，觀察其能否正常啟動和工作。低溫可能會影響材料的性能，導致線路接觸不良、元器件參數(shù)變化等問題。通過低溫測試可以發(fā)現(xiàn)布線在低溫條件下的薄弱環(huán)節(jié)，進而采取相應的防護措施。