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PCB 生產(chǎn)過程中，進(jìn)行電氣測(cè)試是確保電路板性能和質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。以下是常見的 PCB 電氣測(cè)試方法：

 一、簡(jiǎn)單易行的連通性測(cè)試

- 測(cè)試原理：連通性測(cè)試是檢測(cè)電路板上各焊點(diǎn)、線路之間的電氣連接是否正常。通過在電路板的電源和地之間施加電壓，然后使用測(cè)試探針測(cè)量不同測(cè)試點(diǎn)之間的電阻。如果電阻值在允許范圍內(nèi)，則說明電路連通且接觸良好。這種方法能快速發(fā)現(xiàn)線路斷路、虛焊等問題。

- 操作步驟：首先，將電路板連接到電源和地。接著，使用萬用表等設(shè)備測(cè)量各測(cè)試點(diǎn)之間的電阻值。在測(cè)量時(shí)，要確保電路板上的元件處于斷電狀態(tài)，以避免損壞元件。同時(shí)，測(cè)試探針要與測(cè)試點(diǎn)保持良好的接觸，以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

 二、功能全面的在線測(cè)試

- 測(cè)試原理：在線測(cè)試（In - Circuit Testing，ICT）是一種較為全面的電路板測(cè)試方法。ICT 測(cè)試使用專用的測(cè)試夾具，將電路板固定在測(cè)試平臺(tái)上，然后通過測(cè)試探針與電路板上的測(cè)試點(diǎn)接觸。測(cè)試儀器會(huì)根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試程序，逐個(gè)對(duì)電路板上的元件進(jìn)行測(cè)試，包括元件的參數(shù)測(cè)量、功能測(cè)試等。這種方法能夠在不拆卸元件的情況下，對(duì)電路板進(jìn)行全面的檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)元件的損壞、線路短路等問題。

- 操作步驟：將電路板裝入測(cè)試夾具，確保電路板與測(cè)試探針良好接觸。然后，啟動(dòng)在線測(cè)試儀，按照測(cè)試程序進(jìn)行操作。在測(cè)試過程中，要確保電路板穩(wěn)定，避免因電路板移動(dòng)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。測(cè)試完成后，及時(shí)清理電路板表面，避免殘留的雜質(zhì)影響后續(xù)的測(cè)試。

 三、精準(zhǔn)細(xì)致的邊界掃描測(cè)試

- 測(cè)試原理：邊界掃描測(cè)試是一種基于 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法，主要用于測(cè)試電路板上具有邊界掃描功能的集成電路（IC）及其周邊的布線。邊界掃描在 IC 內(nèi)部設(shè)計(jì)了一組寄存器，用于控制和監(jiān)測(cè) IC 與外部引腳之間的信號(hào)。測(cè)試時(shí)，通過向邊界掃描寄存器發(fā)送測(cè)試指令，使 IC 輸出測(cè)試信號(hào)，并對(duì)返回的信號(hào)進(jìn)行分析，從而判斷 IC 和布線是否存在故障。這種方法能夠?qū)?fù)雜的數(shù)字電路進(jìn)行有效的測(cè)試，減少測(cè)試成本和時(shí)間。

- 操作步驟：將電路板連接到邊界掃描測(cè)試儀，確保邊界掃描測(cè)試儀與電路板的 TCK、TMS、TDI、TDO 等引腳正確連接。然后，按照測(cè)試程序?qū)﹄娐钒暹M(jìn)行測(cè)試，分析測(cè)試結(jié)果，判斷是否存在故障。在測(cè)試過程中，要確保電路板的電源穩(wěn)定，避免因電源波動(dòng)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。

 四、靈活高效的飛針測(cè)試

- 測(cè)試原理：飛針測(cè)試是一種靈活的測(cè)試方法，適用于各種復(fù)雜形狀和高密度的電路板。它使用多個(gè)可編程控制的測(cè)試探針（飛針），這些探針對(duì)電路板進(jìn)行快速掃描和測(cè)試。飛針測(cè)試可以根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試程序，對(duì)電路板上的焊點(diǎn)、線路、過孔等進(jìn)行電阻、電壓、電流等多種參數(shù)的測(cè)量。這種方法能夠適應(yīng)不同尺寸和形狀的電路板，測(cè)試效率較高。

- 操作步驟：將電路板放置在飛針測(cè)試儀的工作臺(tái)上，確保電路板位置準(zhǔn)確。然后啟動(dòng)測(cè)試程序，飛針會(huì)按照預(yù)設(shè)的路徑對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試。在測(cè)試過程中，要確保電路板表面清潔，避免因表面污染導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。同時(shí)，及時(shí)檢查飛針的磨損情況，確保飛針的性能良好。

 五、嚴(yán)格規(guī)范的功能測(cè)試

- 測(cè)試原理：功能測(cè)試是對(duì)電路板的整體功能進(jìn)行測(cè)試，確保電路板在實(shí)際工作條件下能夠正常運(yùn)行。功能測(cè)試根據(jù)電路板的設(shè)計(jì)要求，模擬電路板的工作環(huán)境和輸入信號(hào)，然后測(cè)量電路板的輸出響應(yīng)。這種方法能夠在接近實(shí)際工作條件的情況下，全面評(píng)估電路板的性能和可靠性，發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷和制造缺陷等問題。

- 操作步驟：搭建與電路板實(shí)際工作環(huán)境相近的測(cè)試平臺(tái)，連接電路板的輸入和輸出端口。然后，按照設(shè)計(jì)要求輸入信號(hào)，并使用示波器、萬用表等設(shè)備測(cè)量電路板的輸出響應(yīng)。在測(cè)試過程中，要確保測(cè)試平臺(tái)的穩(wěn)定性和可靠性，避免因測(cè)試平臺(tái)的問題導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。同時(shí)，對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行詳細(xì)記錄和分析，判斷電路板是否符合設(shè)計(jì)要求。