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阻抗測試探針校準(zhǔn)與四線法測量原理解析

  • 2025-04-08 09:04:00
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在現(xiàn)代電子測試領(lǐng)域,阻抗測試是確保電路性能和可靠性的重要環(huán)節(jié)。本文將深入探討阻抗測試中探針校準(zhǔn)方法、四線法測量原理,以及10GHz帶寬下TDR校準(zhǔn)夾具的設(shè)計,為企業(yè)和工程師提供實用的參考。

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 一、阻抗測試探針校準(zhǔn)方法

 1. 探針校準(zhǔn)的重要性

探針是阻抗測試中的關(guān)鍵工具,其精度直接影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。探針校準(zhǔn)的目的是消除探針接觸電阻和布線電阻的影響,確保測量結(jié)果的可靠性。

 

 2. 校準(zhǔn)方法

- 開爾文四線法:通過分離電流和電壓的測量路徑,消除探針接觸電阻的影響,適用于高精度測量。

- SOLT校準(zhǔn):在高頻測量中,使用SOLT(Short-Open-Load-Thru)校準(zhǔn)方法,結(jié)合端口延伸技術(shù),可以將校準(zhǔn)精度延伸至探針尖端。

 

 二、四線法測量原理解析

 1. 四線法的基本原理

四線法(也稱為開爾文測量法)通過分離電流和電壓的測量路徑,消除了導(dǎo)線電阻對測量結(jié)果的影響。具體原理如下:

- 電流路徑:通過兩根導(dǎo)線向被測物施加恒定電流。

- 電壓路徑:通過另外兩根高阻抗導(dǎo)線測量被測物兩端的電壓。

 

 2. 四線法的優(yōu)點

- 消除導(dǎo)線電阻影響:通過分離電流和電壓路徑,避免導(dǎo)線電阻導(dǎo)致的壓降誤差。

- 高精度測量:特別適用于小電阻值的精確測量,測量結(jié)果更接近真實值。

 

 三、10GHz帶寬下的TDR校準(zhǔn)夾具設(shè)計

 1. TDR校準(zhǔn)夾具的設(shè)計原則

在10GHz帶寬下,TDR(時域反射)校準(zhǔn)夾具的設(shè)計需要滿足以下要求:

- 高頻兼容性:確保夾具在高頻段的性能穩(wěn)定,避免信號衰減和相移。

- 校準(zhǔn)精度:使用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件(如短路、開路和負(fù)載)進行校準(zhǔn),確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

 

 2. 校準(zhǔn)夾具的實現(xiàn)

- 探針設(shè)計:探針需具備高精度和低接觸電阻,以減少測量誤差。

- 校準(zhǔn)流程:通過SOLT校準(zhǔn)方法,結(jié)合端口延伸技術(shù),將校準(zhǔn)精度延伸至探針尖端。

 


通過探針校準(zhǔn)和四線法測量,可以顯著提高阻抗測試的精度和可靠性。在10GHz帶寬下,設(shè)計合理的TDR校準(zhǔn)夾具能夠進一步提升高頻測量的穩(wěn)定性。這些方法和設(shè)計為企業(yè)和工程師提供了實用的解決方案,助力提升產(chǎn)品質(zhì)量和測試效率。