超低粗糙度銅箔對插入損耗的影響及高速背板選型建議
一、插入損耗的定義與影響因素
插入損耗是衡量信號在傳輸過程中損耗的重要指標(biāo),它受到多種因素的影響,包括導(dǎo)體損耗、介質(zhì)損耗和輻射損耗等。在高頻應(yīng)用中,導(dǎo)體損耗中的趨膚效應(yīng)和銅箔粗糙度對插入損耗的影響尤為顯著。
二、銅箔粗糙度對插入損耗的影響
銅箔的表面粗糙度直接影響信號傳輸路徑的長度。在高頻信號傳輸中,趨膚效應(yīng)導(dǎo)致信號主要集中在導(dǎo)體表面,因此銅箔表面粗糙度越低,信號傳輸路徑越短,插入損耗越小。研究表明,低粗糙度的銅箔可以有效減少信號傳輸損耗,從而提升信號完整性。
HVLP銅箔的特性
HVLP(Hyper Very Low Profile)銅箔是一種超低粗糙度銅箔,其表面粗糙度(Rz)通常在0.6微米左右。這種銅箔的低表面粗糙度使其在高頻信號傳輸中表現(xiàn)出優(yōu)異的性能,能夠顯著降低插入損耗。
常規(guī)銅箔的特性
常規(guī)銅箔(如STD銅箔)的表面粗糙度較高,通常Rz值在5微米左右。這種較高的粗糙度會導(dǎo)致信號傳輸路徑變長,增加插入損耗,并可能引發(fā)“駐波”和“反射”等現(xiàn)象,進(jìn)一步影響信號完整性。
三、40GHz下的損耗差異
在40GHz的高頻應(yīng)用中,使用HVLP銅箔的微帶線和帶狀線損耗比常規(guī)HTE銅箔小12%-16%,差異明顯。這種顯著的損耗差異歸因于HVLP銅箔的低表面粗糙度,它能夠有效減少趨膚效應(yīng)和反射損耗,從而降低插入損耗。
四、高速背板的選型建議
高速背板選型原則
在高速背板設(shè)計中,選擇低粗糙度銅箔(如HVLP銅箔)是降低插入損耗的關(guān)鍵。此外,還需要考慮以下因素:
- 材料選擇:選擇低損耗的基板材料,如M6級低損耗板材(Df≤0.002),以進(jìn)一步降低介質(zhì)損耗。
- 加工工藝:優(yōu)化加工工藝,如動態(tài)蝕刻技術(shù)和梯度壓合工藝,以確保銅箔的粗糙度和層間結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。
- 表面處理:選擇對插入損耗影響較小的表面處理工藝,如沉銀工藝,以減少信號損耗。
對于需要高信號完整性的高速背板應(yīng)用,建議優(yōu)先選擇HVLP銅箔,并結(jié)合低損耗基板材料和優(yōu)化的加工工藝,以實現(xiàn)最佳的信號傳輸性能。這種選型策略不僅能夠顯著降低插入損耗,還能提升系統(tǒng)的整體性能和可靠性。
技術(shù)資料